X射線鍍金層測厚儀，檢測電鍍或化學鍍金層厚度

鍍金層測量范圍：0.02-5um
鍍鎳層測量范圍：0.04-30um

韓國XRF-2000X射線鍍金層測厚儀

快速無損檢測電鍍層厚度，可檢測鍍金，鍍銀，鍍鎳，鍍錫，鍍鋅，鍍鉻，鍍鈀等
可測量單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層

單鍍層：如銅上鍍鎳，銅上鍍銀，銅上鍍錫，鐵上鍍鎳等，不限底材
雙鍍層：銅上鍍鎳鍍金，鐵上鍍銅鍍鎳等
多鍍層：鐵上鍍銅鍍鎳鍍銀，銅上鍍鎳鍍鈀鍍金等
合金鍍層：銅上鍍鋅鎳等

XRF-2000X射線鍍層測厚儀

儀器配置
 
全自動臺面

自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測試范圍：0.04－35um
可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間：15秒
 
精度控制：
      *層：±5%以內
      第二層：±8%以內
      第三層：±12%以內

X射線鍍層測厚儀/X射線金屬鍍層測厚儀(韓國先鋒XRF-2000)
 
韓國先鋒XRF2000鍍層測厚儀
 
XRF-2000鍍層測厚儀共分三種型號

不同型號各種功能一樣

機箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹
XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm
以上兩款型長容納樣品長寬為55cm

XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm(開放式設計,長寬不限)